电子显微镜

卡尔蔡司

专为日常检测和分析应用而设计，蔡司 EVO 拥有先进的操作设计理念， 无论是经验丰富的显微技术人员还是不具备扫描显微镜专业知识的工程师，均可轻松上手。它能够提供出色的高质量图像，特别适合于后续检测中无法涂覆导电层的非导电零部件。

EVO 的独特优势在于能够无缝集成至多模式质量保证或失效分析工作流程中，半自动化重定位感兴趣区域和数据完整性解决方案使其可以 实现跨系统、跨实验室甚至跨区域的应用。

此外，EVO 还是清洁度分析的工业级解决方案平台。凭借大量可选的样品室、真空系统、电子枪和分析选件，EVO 完全可以满足您的性价比需求。

蔡司 Sigma 系列是拥有高品质成像和卓越分析功能的场发射扫描电镜。它受益于久经考验的Gemini 电子光学技术。Sigma 可以配备多种探测器，可以满足不同的应用需求：颗粒物， 表面构型及纳米结构等样品的成像。利用 Sigma 直观的 4 步工作流程，可以使得日常所需的成像和分析的效率得到提高。

Sigma 300 具有极高的性价比。而 Sigma 500 以其领先的 EDS 几何设计实现方便快捷的分析能力。无论何种试样，Sigma 都能以其高精确性及可重复的测量结果得到您的信赖！

泰思肯

CLARA 是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜，是基于成功的S8000 基础上进一步研发的，其设计更能满足材料科学的需求，适用于对各种不同类型材料的分析和表征。 

CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别，能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成（最小放大倍数可至2倍），从而快速定位感兴趣的区域。

TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率，因而不仅适用于样品及表面进行形貌观察，同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ，不仅在低电压下拥有极佳的分辨率，而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度，来探索样品可能包含的大量信息，因而是分析测试中心或材料科学研究实验室的最佳选择。

新一代的电子光学和成像技术使 CLARA 成为任何分析测试中心，材料表征实验室或工业检测实验室必不可少的设备。直观，模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制，可以有效的提高工作效率。预设程序和最佳成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像，并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高端功能

TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务，这些任务要求设备具有最佳的分辨率、最先进的离子光学系统和最好的纳米加工能力。TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率，特别是在低电压下；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 镜筒提供不仅为纳米加工提供了最佳的精度，还具备很高的离子束流，因此可以满足大体积加工和分析的需求。 出色的低电压离子束分辨率和性能使得 TESCAN SOLARIS 有能力制备小于 20 nm 的、半导体器件最佳质量的超薄 TEM 样品。此外，高达 100 nA 的大离子束流可以对生物样品和材料进行指定位置的、大体积 FIB-SEM 逐层扫描，图像也具有出色的衬度。TESCAN SOLARIS 使用了全新的 Essence™ 软件，软件用户界面友好，可以满足各类应用需求，可定制的软件布局以及自动化的样品制备功能，最大限度地提升了操作便捷性和工作效率。

DynaTOM 是独一无二的首款专为快速动态原位成像而设计的系统。

主要优势：

• 样品固定不动，X 射线源和探测器旋转设计

• 分辨率最小 3 µm (JIMA 分辨率模式)

• 完整的层析图像，以秒为单位

• 第一个专门用于原位应用的商业系统